A63.7069 Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno, standard. SEM, 6x~600000x

Breve descrizione:

  • 6x~60000x Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno, standard. SEM
  • LaB6 aggiornabile, rilevatore di raggi X, EBSD, CL, WDS, macchina per rivestimento ed ecc.
  • Multi modifica EBL, STM, AFTM, stadio di riscaldamento, stadio criogenico, stadio di trazione, SEM + laser ed ecc.
  • Calibrazione automatica, rilevamento automatico dei guasti, basso costo per manutenzione e riparazione
  • Interfaccia operativa facile e intuitiva, tutto controllato dal mouse nel sistema Windows
  • Quantità di ordine minimo:1

–>


Dettagli del prodotto

Tag dei prodotti

A63.7069_01.jpg

Descrizione del prodotto
A63.7069 Filamento di tungsteno Microscopio elettronico a scansione, St. SEM
Risoluzione 3nm@30KV(SE); 6nm@30KV (ESB)
Ingrandimento Ingrandimento negativo: 6x~300000x; Ingrandimento dello schermo: 12x~600000x
cannone elettronico Cartuccia a filamento di tungsteno pre-centrato a catodo riscaldato al tungsteno
Tensione di accelerazione 0~30KV
Sistema di lenti Lente elettromagnetica a tre livelli (lente affusolata)
Apertura obiettivo Sistema di vuoto esterno regolabile con apertura al molibdeno
Fase del campione Fase a cinque assi
Gamma di viaggio X (automatico) 0~80mm
Sì (automatico) 0~60mm
Z (manuale) 0~50mm
R (manuale) 360º
T (manuale) -5º~90º
Diametro massimo del campione 175 mm
Rivelatore SE: rivelatore di elettroni secondari ad alto vuoto (con protezione del rivelatore)
BSE: rivelatore a dispersione posteriore a quattro segmenti a semiconduttore
CCD
Modifica Aggiornamento fase; EBL; STM; AFM; fase di riscaldamento; fase criogenica; fase di trazione; manipolatore micro-nano; SEM + macchina per rivestimento; SEM + laser
Accessori CCD, LaB6, rilevatore di raggi X (EDS), EBSD, CL, WDS, macchina di rivestimento
Sistema di vuoto Pompe turbomolecolari;pompa di rotazione
Corrente del fascio di elettroni 10pA~0.1μA
PC Postazione di lavoro Dell personalizzata

A63_05.jpg

A63_06.jpg

A63_07.jpg

A63_08.jpg

A63_09.jpg

A63_10.jpg

A63_10_02.jpg

Vantaggio e casi

La microscopia elettronica a scansione (sem) è adatta per l'osservazione della topografia superficiale di metalli, ceramiche, semiconduttori, minerali, biologia, polimeri, compositi e materiali unidimensionali, bidimensionali e tridimensionali su nanoscala (immagine elettronica secondaria, immagine di elettroni retrodiffusi). Può essere utilizzato per analizzare i componenti puntuali, lineari e di superficie della microregione. È ampiamente utilizzato in petrolio, geologia, campo minerario, elettronica, campo dei semiconduttori, medicina, campo della biologia, industria chimica, campo dei materiali polimerici, indagini penali di pubblica sicurezza, agricoltura, silvicoltura e altri campi.A63_13.jpg

A63_14.jpg

A63_15.jpg

Informazioni sull'azienda

_02_01.jpg

OPTO-EDU, come uno dei produttori e fornitori di microscopi più professionali in Cina, il nostro sottomarchio serie CNOPTEC di fascia alta microscopi biologici, da laboratorio, polarizzanti, metallurgici, a fluorescenza, microscopio forense serie CNCCOMPARISON, microscopio SEM serie A63 e .49 fotocamera digitale serie, fotocamera LCD sono molto popolari nel mercato mondiale.

_02_03.jpg

_02_04.jpg


  • Precedente:
  • Il prossimo:

  • Scrivi qui il tuo messaggio e inviacelo